www.invac.ru |
Intech analitics
У нас есть вакансии в Москве, Санкт-Петербурге, Новосибирске и Екатеринбурге.



Поиск по сайту:
   

главная
о фирме
каталог оборудования
технологии
контакты
заказ
выставки











Hiden Analytical

Скачать:
Описание

«ИНТЕК Аналитика» является официальным представителем компании Hiden Analytical на территории России и стран СНГ. Мы осуществляем поставку, пуско-наладку, гарантийное и послегарантийное обслуживание. Предлагаем Вашему вниманию квадрупольные масс-спектрометры для прецизионного анализа в диагностике вакуума HIDEN RGA SERIES.

HIDEN RGA SERIES

Квадрупольные масс-спектрометры

В серию RGA входит оборудование трех направлений:
HALO - Для анализа остаточных газов.

  • Возможность измерять диапазон масс 200 и 300 а. е. м., и парциальное давление до 2х10-13 мБар.
  • Вакуумный снимок – сравнение и анализ остаточных газов и газовой фазы в вакуумных камерах. Для контроля состояния технологической камеры.
  • Анализ трендов – Наблюдение парциальных давлений различных газов в реальном времени.
  • Течеискатели – Газоанализаторы остаточных газов Hiden имеют превосходную чувствительность по гелию.

3F - Квадруполь с тремя фильтрами для прецизионного анализа газов и научного применения.

  • Возможность измерять диапазон масс 300 и 510 а. е. м. и парциальное давление до 2х10-14 мБар
  • 3F технология с тремя фильтрами позволила расширить исследуемый диапазон масс, и разрешающую способность по массе, повысить чувствительность по тяжелым частицам, улучшить стойкость к загрязнению

3F – PIC Квадруполь с тремя фильтрами и счетным детектором ионов для изучения быстрых процессов.

  • Возможность измерять диапазон масс 300 и 510 а. е. м. и парциальное давление до 5х10-15 мБар.
  • Детектор ионов обеспечивает 7 порядков непрерывного динамического диапазона с возможностью аналитического расширения до 12 порядков.

Особенности серии RGA:

  • Программное управление MASsoft через RS232, RS485 или распределенная система через локальную сеть Ethernet
  • Быстрый доступ к гистограммам, анализу трендов и отображению пиков в аналоговом режиме
  • Смешанный режим сканирования, т.е., размещение гистограмм, трендов и аналоговых пиков в различных окнах
  • Непрерывное отображение в реальном времени анализа данных в графической и табличной форме
  • Простое наведение курсоров мышью при идентификации амплитуды пиков
  • Вычитание фона в реальном времени, автоматическое масштабирование массового диапазона
  • Поддержка экспорта данных в формате ASCII и во все WindowsTM приложения
  • Поддержка Dynamic Data Exchange для передачи данных в реальном времени другим приложениям-клиентам DDE Windows™, например, программам статистической обработки данных Excel, SPC-IV
Встроенные режимы работы серии RGA:
  • Система включает в себя предустановленные процедуры для анализа течей и трендов, получения гистограмм и профилей пиков.
  • Построение гистограмм спектров в любой области диапазона масс.
  • Режим сканирования профилей масс с шагом до 0.01 а. е. м. на любом выбранном пользователем диапазоне масс.
  • Вычитание фона, а также вычитание заданного спектра в реальном времени.
  • Вычитание фона доступно в построении гистограмм, анализе трендов, режиме поиска течи и получении профилей пиков.
  • Анализ трендов с возможностью вывода в реальном времени интенсивности пиков от времени в табличном и графическом виде одновременно. Может быть запрограммировано до 100 массовых каналов.
  • Каждый массовый канал при анализе трендов может иметь свои настройки масс-спектрометра для оптимизации данных по каждому газу.
  • При анализе трендов каналы автоматически задаются простым выбором названий частиц, из встроенной библиотеки. Также каналы могут быть заданы вручную вводом необходимого массового числа и названия.
  • Интерфейс программы управления и динамических данных совместим с приложениями Windows™
  • Режим картографирования интенсивности ионов от параметров источника. Опция управления источником ионов обязательна.
  • Сканирование интенсивности от энергии электронов. Позволяет разделить появление одинаковых радикалов от разных молекул. Опция управления источником ионов обязательна.
  • Смешанный режим сканирования. Редактируемый процесс сканирования позволяет настроить сбор данных и их одновременный вывод в различных окнах анализа трендов, профилей пиков, гистограмм.
  • Автоматическая и диалоговая настройки всех параметров ионного источника. Опция управления источником ионов обязательна.
  • Обзор и сравнение исторических данных синхронно с получаемыми данными в реальном времени.
  • Экспорт данных в файлы, поддерживающие ASCII формат, и на Windows совместимые устройства вывода.
  • Встроенные обработчики событий позволяют пользователю редактировать интерфейс передачи данных к другим интегрированным подсистемам.





















Intech analitics
© 2004-2012 «Intech», info@invac.ru
Любое коммерческое использование представленных на сайте материалов без ведома и прямого письменного разрешения Компании ИНТЕК не допускается и будет преследоваться согласно российскому и международному законодательству.

vladimir il'mast | rael' design 2004
Система Orphus

recommended by vacuum-guide.com